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 (約568k) |
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「Technical Journal」最新号のご案内 |
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TECHNICAL JOURNAL No.72 February, 2010
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1.
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【表面分析特集】走査型オージェナノプローブ PHI 700XiTM |
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2.
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【表面分析特集】走査型X 線光電子分光装置PHI 5000 VersaProbeTM を用いた表面分析 |
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3.
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【表面分析特集】飛行時間型二次イオン質量分析装置PHI TRIFT V nanoTOFTM を用いた表面分析 |
| 4. |
QCM バイオセンサ 「AFFINIX QN、QN μ」の開発 |
| 5. |
脱真空への取り組み 航空宇宙から身近な食品・包装まで
〜高潤滑性金属表面処理「タフラム®」「ニダックス®」「ニフグリップ®」〜 |
| 6. |
防着板用溶射材料の開発 |
| 7. |
タンデム型薄膜シリコン太陽電池製造一貫ライン |
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